[实用新型]一种双激光对射式厚度检测机构有效
| 申请号： | 202022610702.5 | 申请日： | 2020-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN213631986U | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 刘延利 | 申请（专利权）人： | 东莞市兆丰精密仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;B21C51/00 |
| 代理公司： | 东莞市永桥知识产权代理事务所(普通合伙) 44400 | 代理人： | 姜华 |
| 地址： | 523109 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供的一种双激光对射式厚度检测机构，包括上调节模块、固定在所述上调节模块输出端的上激光头、下调节模块、固定在所述下调节模块输出端的下激光头、以及位于所述上激光头与所述下激光头之间的产品夹持模块，所述上激光头与所述下激光头相对设置，所述产品夹持模块包括支撑板、固定在所述支撑板上的底板、位于所述底板上侧的盖板，所述底板与所述盖板上均开设有若干避让孔。本实用新型的双激光对射式厚度检测机构，设置有上激光头和下激光头，利用上激光与下激光的配合测量出键盘支架弯折部的厚度，减少了测量误差，提高了测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 对射 厚度 检测 机构 | ||
【主权项】：
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