[实用新型]微纳光学元件参数测量装置及其固定机构和角度调节机构有效
申请号: | 202022684446.4 | 申请日: | 2020-11-18 |
公开(公告)号: | CN213180621U | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 吴启花;周天佑;吴立楠;陆海燕 | 申请(专利权)人: | 苏州麦田光电技术有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G02B7/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江苏省苏州市吴中区中国(江苏)自*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型涉及光学测试设备技术领域,且公开了微纳光学元件参数测量装置及其固定机构和角度调节机构,测量装置包括安装座,所述安装座的顶端固定安装有角度调节装置,所述角度调节装置的顶端固定安装有安装滑轨,所述安装滑轨的顶端滑动安装有固定座,所述固定座的顶端固定安装有固定装置,所述固定座的一侧固定连接有伸缩气缸的伸出端,所述伸缩气缸与角度调节装置固定连接,所述安装板的顶端两侧均固定安装有电动推杆,通过设置固定装置以及角度调节装置,使得能够对微纳光学元件的位置与角度进行精准调节,从而保证不同情况下光学参数的测量要求,以此测量出不同的光学参数,具备测量范围大等优点,解决了现有的测量范围小的问题。 | ||
搜索关键词: | 光学 元件 参数 测量 装置 及其 固定 机构 角度 调节 | ||
【主权项】:
暂无信息
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