[实用新型]一种用于电子元器件和IC卡的静电放电测试仪有效
申请号: | 202022691323.3 | 申请日: | 2020-11-19 |
公开(公告)号: | CN214067286U | 公开(公告)日: | 2021-08-27 |
发明(设计)人: | 张峰瑞;陈叶 | 申请(专利权)人: | 黑龙江大学 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/02;G01R1/04 |
代理公司: | 北京沃知思真知识产权代理有限公司 11942 | 代理人: | 高小艳 |
地址: | 150080 *** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种用于电子元器件和IC卡的静电放电测试仪,包括本体和放电枪,还包括便于检修内部器件的维护结构、避免手滑掉落的摩擦结构和便于放置的固定结构,所述本体顶端的中间位置处横向铰接有维修门,且维护结构均设置在维修门一端两侧的本体顶端,所述维修门一侧的上端安装有固定箱,且固定结构设置在固定箱的内部,所述固定箱内部设置有延伸至固定箱外部的放电枪,且放电枪一侧的上端安装有手柄,所述摩擦结构横向设置在手柄的内部。本实用新型通过设置固定箱和弧形卡箍,便于在测试完成后对放电枪的限位固定,避免搬运时,需要额外手持放电枪,降低搬运效率,进而便于降低使用者的负担。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 电子元器件 ic 静电 放电 测试仪 | ||
【主权项】:
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