[实用新型]一种用于光学测量仪器的校准器有效
| 申请号： | 202022711948.1 | 申请日： | 2020-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN213515728U | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 杨志华 | 申请（专利权）人： | 深圳华证计量检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于光学测量仪器的校准器，包括校准器主体，所述校准器主体内部嵌入活动安装有调节块，所述校准器主体一侧表面嵌入活动安装有一号螺纹转轴，所述校准器主体前表面嵌入活动安装有二号螺纹转轴，所述校准器主体下表面和所述调节块上表面均开设有滑槽，所述校准器主体和所述调节块一侧表面位于滑槽两侧均嵌入固定安装有插销，所述插销内部活动安装有F型推杆，所述调节块上表面接近另一侧处和一侧表面均固定安装有水平尺，所述滑槽内部均活动嵌入安装有固定块。本实用新型所述的一种用于光学测量仪器的校准器，能够快速固定的同时提高其稳定性，能够快速简单的调节水平角度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 光学 测量 仪器 校准 | ||
【主权项】：
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