[实用新型]一种基于InSe材料的太赫兹探测元器件有效

专利信息
申请号: 202022732369.5 申请日: 2020-11-23
公开(公告)号: CN213988899U 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 宋雪梅;郭萌萌;张永哲 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: H01L31/032 分类号: H01L31/032;H01L31/0232;H01L31/113;B82Y30/00
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 张立改
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于InSe材料的太赫兹探测元器件,属于太赫兹领域。衬底层水平设置在最下层,绝缘介质层水平设置在衬底的上表面上,保护层a层水平设置在绝缘介质层的上表面上,InSe层平行设置在保护层a层上方,保护层b层为水平设置在InSe层上方,保护层b层完全覆盖InSe层;源电极、漏电极设置在InSe材料两侧,并且源电极、漏电极覆盖裸漏的InSe边缘,顶栅电极绝缘层上方位置,与内部InSe无接触;天线位于源极和栅极远离InSe材料侧,与源极和栅极分别相连。对入射太赫兹波具有更强的吸收能力转换能力、更低的接触电阻、更洁净的工作环境,实现对不同波段太赫兹波的宽谱探测,通过改变栅压实现器件的开关。
搜索关键词: 一种 基于 inse 材料 赫兹 探测 元器件
【主权项】:
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