[实用新型]用于测量双金属元件弯曲特性的测量装置

摘要

本实用新型提供了一种用于测量双金属元件弯曲特性的测量装置，包括一个夹持本体、一个夹持块、一个支架组件以及一个传感器支架。夹持本体、夹持块采用绝缘材料。夹持块用于配合夹持本体夹持待测样品。支架组件用于夹持夹持本体和夹持块。支架组件包括一个连接件和一个紧固件，支架组件通过连接件连接于夹持本体，紧固件用于调节夹持本体和夹持块之间夹持力的大小。第一传感器支架设置于夹持本体和夹持块中的一个，第一传感器支架上设置有一个位移传感器。位移传感器用于测量待测样品形变部分的位移。本实用新型通过电流对双金属元件进行加热并测量双金属元件相应的弯曲程度，能够测量双金属元件内阻对其弯曲程度的影响。