[实用新型]一种基于多模光纤的芯片光谱特性测试系统有效

专利信息
申请号: 202022758876.6 申请日: 2020-11-25
公开(公告)号: CN213715039U 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 高国祥;肖爱长;许乐 申请(专利权)人: 珠海奇芯光电科技有限公司
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01N21/01
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 唐沛
地址: 519000 广东省珠海市横琴新*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种基于多模光纤的芯片光谱特性测试系统。该系统包括光谱仪、单模光纤、准直耦合组件、多模光纤以及第一多模陶瓷插芯;第一多模陶瓷插芯正对被测芯片的的出光口放置;准直耦合组件包括套筒、第二多模陶瓷插芯、透镜以及单模陶瓷插芯;第二多模陶瓷插芯、透镜以及单模陶瓷插芯依次同轴设置于套筒内;多模光纤一端与第一多模陶瓷插芯连接,另一端与第二多模陶瓷插芯连接;单模光纤一端与单模陶瓷插芯连接,另一端与所述光谱仪连接。该测试系统提高了多模光纤到单模光纤的对接耦合效率,满足了光谱SMSR对中心波长能量的要求。
搜索关键词: 一种 基于 光纤 芯片 光谱 特性 测试 系统
【主权项】:
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