[实用新型]一种带回路测试功能的光耦高压测试装置有效
| 申请号： | 202022941639.3 | 申请日： | 2020-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN214375118U | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 张广添;黄宝莹;吴质朴;何畏 | 申请（专利权）人： | 深圳市奥伦德元器件有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 梁国平 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种带回路测试功能的光耦高压测试装置，包括：底座；测试单元，测试单元安装在底座上，测试单元包括第一测试单元和第二测试单元；第一测试单元包括第一测试片、第二测试片、第三测试片和第一夹持区；第二测试单元包括第四测试片、第五测试片、第六测试片和第二夹持区。在测试时，带回路测试功能的光耦高压测试装置的第一测试片、第二测试片和第三测试片共同卡设固定光耦的一只输入引脚，第四测试片、第五测试片和第六测试片共同卡设固定光耦的另一只输入引脚，从而实现测试单元能紧紧扣住光耦芯片的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 回路 测试 功能 高压 装置 | ||
【主权项】：
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