[实用新型]一种薄膜开关质量检测装置有效

专利信息
申请号: 202022984259.8 申请日: 2020-12-09
公开(公告)号: CN213658425U 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 蔡勇;李海峰 申请(专利权)人: 上海芯镭电子科技有限公司
主分类号: G01N3/02 分类号: G01N3/02;G01N3/04;G01N3/38;G01R31/327
代理公司: 合肥鸿知运知识产权代理事务所(普通合伙) 34180 代理人: 刘骐鸣
地址: 201900 上海市宝*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及一种薄膜开关质量检测装置,包括底座、折弯组件和夹紧组件;底座的顶部安装有折弯组件,折弯组件的两侧安装有夹紧组件;所述折弯组件包括折弯板、转轴、电机、驱动齿轮和从动齿轮;所述底座的顶面开设折弯槽,所述折弯槽的底部两侧转动安装折弯板,两侧所述折弯板通过转轴连接,所述折弯槽的底面开设电机槽,所述折弯槽的侧面开设齿轮槽,所述电机槽的内部固接电机,所述电机的输出端固接驱动齿轮,所述驱动齿轮转动安装在齿轮槽的内部,所述驱动齿轮的齿轮与从动齿轮的齿轮啮合,所述从动齿轮与转轴固接,所述从动齿轮转动安装在齿轮槽的内部;实现了薄膜开关自动折弯检测,继而降低了检测人员的工作强度,提高了检测的准确性。
搜索关键词: 一种 薄膜开关 质量 检测 装置
【主权项】:
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