[实用新型]一种荧光发光光谱与寿命探测系统有效

专利信息
申请号: 202022985207.2 申请日: 2020-12-10
公开(公告)号: CN214097162U 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 黄超;王辉文 申请(专利权)人: 武汉东隆科技有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01J3/44;G01J3/28;G01J3/02;G02B21/00
代理公司: 武汉智慧恒知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42232 代理人: 张扬
地址: 430000 湖北省武汉市洪山*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型公开了一种荧光发光光谱与寿命探测系统,涉及荧光技术领域,该荧光发光光谱与寿命探测系统包括倒置光学显微镜、物镜、全反镜、外壳、聚焦镜、可调节针孔、扩束镜、光纤耦合器、多模光纤、单色仪、单光子探测器、二向色镜模块、潜望镜组、光阑、可调中性滤波片组以及脉冲激光器。本实用新型实施例所述荧光发光光谱与寿命探测系统将荧光寿命成像与荧光波长探测相结合,进一步从两种不同维度同时研究物体的属性,通过融合了荧光寿命和荧光波长两种参数同时探测,集成了共聚焦的高空间分辨率,以及单色仪对波长的精确筛选,为研究物体光物理化学属性拓展了参照维度,从而提升了实验的可靠性和全面性。
搜索关键词: 一种 荧光 发光 光谱 寿命 探测 系统
【主权项】:
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