[实用新型]一种VCSEL测试系统有效
| 申请号： | 202023005973.4 | 申请日： | 2020-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN214066470U | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 王胜利;刘振辉 | 申请（专利权）人： | 矽电半导体设备（深圳）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;B65G47/04;B65G47/34 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种VCSEL测试系统。一种VCSEL测试系统，包括，依次设置的，上料机，用于放置待测试的VCSEL元器件；远场测试机，用于对VCSEL元器件进行远场测试；发光角度测试机，用于对VCSEL元器件进行发光角度测试；下料机，用于放置测试后的VCSEL元器件；本领域技术人员能够根据对VCSEL元器件测试要求选择不同的机器组合，从而将远场测试机和/发光角度测试机替换或增加其它测试设备，从而完成对VCSEL元器件的测试要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 vcsel 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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