[实用新型]一种用于测试电子元件的恒温恒湿试验装置有效
| 申请号： | 202023101061.7 | 申请日： | 2020-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN214011017U | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 乔森 | 申请（专利权）人： | 森诺检测认证技术服务（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 南昌逸辰知识产权代理事务所(普通合伙) 36145 | 代理人： | 刘林艳 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种用于测试电子元件的恒温恒湿试验装置，包括箱体结构；所述箱体结构上铰接安装有护板结构；所述箱体结构内部开设有内箱结构；所述箱体结构顶部卡接安装有四组干燥结构；护板结构还包括有门板、观测窗，门板上开设有四组观测窗，每组观测窗均采用加厚的钢化玻璃安装，门板内侧面的靠边沿位置设置有密封条，铰接安装的门板为检测设备的主要防护结构，而现有的检测设备的门窗上只设置有一组观测窗，单一的观测窗无法良好的对内部进行观测，将门板上开设四组观测窗，使得门板在关闭之后具有更加良好的观测目的，且观测窗采用加厚的钢化玻璃，使得四组观测窗具有门板应有的强度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 电子元件 恒温 试验装置 | ||
【主权项】：
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