[实用新型]一种光刻胶颗粒度测试装置有效

专利信息
申请号: 202023168196.5 申请日: 2020-12-24
公开(公告)号: CN214384566U 公开(公告)日: 2021-10-12
发明(设计)人: 顾大公;陈玲;马新龙;许东升;许鹏;陈阳;胡海斌;毛智彪;许从应 申请(专利权)人: 宁波南大光电材料有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 深圳盛德大业知识产权代理事务所(普通合伙) 44333 代理人: 贾振勇
地址: 315800 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型适用于光刻胶测试技术领域,提供了一种光刻胶颗粒度测试装置,包括,高位槽,与光刻胶生产线连接用于存储待测光刻胶;颗粒仪,用于测量待测光刻胶的颗粒度;高位槽底部设有进料口;高位槽的侧下方设有出料口;颗粒仪的出口端还设有流量计。本实施例的光刻胶颗粒度测试装置,通过高位槽中待测光刻胶自身重力和出口端的流量计同时作用,使待测光刻胶以稳定的流速进入颗粒仪,简化了操作,提高了测试精度。解决了光刻胶颗粒度测试时,因流量不稳导致仪器容易报错的问题;并且相对于现有在进口端通过阀门需要实时调节的方法,简化了操作,可重复操作性高,并大大缩短了光刻胶产品生产时颗粒度检测的时间,提升了数据可靠性和重复性。
搜索关键词: 一种 光刻 颗粒 测试 装置
【主权项】:
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