[实用新型]一种快速判定DDR芯片失效的装置有效
| 申请号： | 202023183526.8 | 申请日： | 2020-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN213751984U | 公开（公告）日： | 2021-07-20 |
| 发明（设计）人： | 彭军;孙晓虎;罗里刚;何红 | 申请（专利权）人： | 四川长虹网络科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C29/56 |
| 代理公司： | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 | 代理人： | 陈立志 |
| 地址： | 621000 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了一种快速判定DDR芯片失效的装置，以便对取下的DDR芯片能快速有效判定是否失效。本实用新型包括用于和DDR进行读写操作的MCU、用于存储DDR设置参数的FLASH、用于DDR芯片电接入并固定DDR芯片的DDR测试插座、串行数据通信接口以及人机交互装置；所述MCU分别与所述FLASH、DDR测试插座、串行数据通信接口电连接，所述串行数据通信接口与所述人机交互装置电连接。在使用时，可将该DDR芯片放入DDR测试插座，MCU按DDR芯片的规格参数，对DDR进行读写操作，如读写操作正常，表示该芯片正确，如反馈错误，表示该芯片失效，进而起到快速判定的目的。本实用新型适用于DDR芯片失效检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 判定 ddr 芯片 失效 装置 | ||
【主权项】：
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