[发明专利]具有用于源选择栅极线的隔离结构的三维存储器件及用于形成其的方法在审

专利信息
申请号: 202080002331.2 申请日: 2020-09-04
公开(公告)号: CN112997310A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 吴佳佳;耿静静;周杨;郭振;肖梦;张慧 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11582 分类号: H01L27/11582;H01L27/1157
代理公司: 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 代理人: 张殿慧;刘健
地址: 430074 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 公开了三维(3D)存储器件及用于形成其的方法的实施例。在一个示例中,一种3D存储器件包括:衬底;位于所述衬底上的存储堆叠层;各自垂直地延伸穿过所述存储堆叠层的多个沟道结构;以及一个或多个隔离结构。所述存储堆叠层包括多个交织的导体层和电介质层。所述导体层中的朝向所述衬底的最外面的一个导体层是源选择栅极线(SSG)。每个隔离结构在平面图中围绕所述沟道结构中的至少一个沟道结构以便分隔所述SSG与所述至少一个沟道结构。
搜索关键词: 具有 用于 选择 栅极 隔离 结构 三维 存储 器件 形成 方法
【主权项】:
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