[发明专利]用于缺陷分析的计算机实现的方法、用于缺陷分析的设备、计算机程序产品和智能缺陷分析系统在审
| 申请号： | 202080003638.4 | 申请日： | 2020-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN114930385A | 公开（公告）日： | 2022-08-19 |
| 发明（设计）人： | 王海金;曾建风 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/44;G06V10/762;G06T7/66;G06T7/62 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 吴俣;姜春咸 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 提供了一种用于缺陷分析的计算机实现的方法。该计算机实现的方法包括：获得多组缺陷点坐标，所述多组缺陷点坐标中的各组包括多个基板中的各个基板中的缺陷点的坐标，各个基板中的缺陷点的坐标是在图像坐标系中的坐标；将根据所述图像坐标系的所述多组缺陷点坐标组合成复合组坐标，以生成复合图像；以及执行聚类分析以将所述复合图像中的所述复合组中的缺陷点分类成多个点簇。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 缺陷 分析 计算机 实现 方法 设备 程序 产品 智能 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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