[发明专利]分析方法、分析基板、分析套件和分析设备在审

专利信息
申请号: 202080004773.0 申请日: 2020-02-28
公开(公告)号: CN112789497A 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 小林奈央;石原美津子 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G01N21/51 分类号: G01N21/51;G01N21/53;G01N21/64;A61K9/127
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 李鹏宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 根据一个实施例,提供一种分析方法,用于确定脂质颗粒群中的包含目标物质的第一脂质颗粒的丰度比。分析方法包括:照射步骤,利用光来照射包含脂质颗粒群的溶液;测量步骤,通过检测散射光,测量溶液中的多个脂质颗粒的总数、第一脂质颗粒的数量和不包含目标物质的第二脂质颗粒的数量中的至少两个数;以及计算步骤,计算第一脂质颗粒的丰度比。
搜索关键词: 分析 方法 套件 设备
【主权项】:
暂无信息
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