[发明专利]光学粒子分析仪的校准验证在审
| 申请号： | 202080006148.X | 申请日： | 2020-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN113099724A | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 托马斯·A·贝茨;马特·迈克利斯;布雷特·海利 | 申请（专利权）人： | 粒子监测系统有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;H01S3/00;G01N21/53;G01N15/06;G01N15/14 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人： | 刘晔;王刚 |
| 地址： | 美国科*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了粒子分析仪和用于验证粒子分析仪的校准状态的相关方法，包括独立于粒子的存在或不存在。该方法和分析仪包括使用不同且非干扰的时频域：中频时域和低频时域，以及可选地高频时域。高频时域产生激光刻面驱动电流频率调制，以防止激光刻面空间跳模。中频时域用于粒子检测。低频时域用于校准状态，包括激光‑脉冲‑光自诊断，用于分析仪的健康或校准状态。通过仔细选择频率时域范围，不存在干扰，具有与粒子无关的自诊断仪器的能力。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 粒子 分析 校准 验证 | ||
【主权项】：
暂无信息
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