[发明专利]用于测量材料的料位的设备在审

专利信息
申请号: 202080009355.0 申请日: 2020-01-14
公开(公告)号: CN113302461A 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: G·巴克;C·R·蒂普顿;D·J·怀廷 申请(专利权)人: 庄信万丰股份有限公司
主分类号: G01F23/284 分类号: G01F23/284;G01F23/26
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨贝贝;臧建明
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种用于确定限定体积内的一个或多个材料相的种类、位置或料位或者两个材料相之间的界面的位置的设备,该设备包括:a)线性单元阵列,该线性单元阵列被配置为产生和检测电磁辐射;b)细长壳体,该细长壳体容纳该单元阵列,该细长壳体对于由该单元产生的电磁辐射是至少部分透明的;该设备被配置为至少部分地浸没在该限定体积内的该一个或多个材料相内,其中该线性单元阵列通过该细长壳体与该一种或多种材料物理隔离,该线性单元阵列被配置为在沿该壳体的长度的位置处产生穿过该至少部分透明的细长壳体到包围该壳体的该一个或多个材料相的传输信号,以及在沿该壳体的该长度的位置处穿过该细长壳体从包围该壳体的该一个或多个材料相接收返回信号,其中该设备被配置成处理该返回信号以确定该限定体积内的该一个或多个材料相的该种类、位置或料位或两个材料相之间的界面的该位置。
搜索关键词: 用于 测量 材料 设备
【主权项】:
暂无信息
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