[发明专利]三维测量系统和三维测量方法有效
申请号: | 202080009482.0 | 申请日: | 2020-03-12 |
公开(公告)号: | CN113330277B | 公开(公告)日: | 2022-04-29 |
发明(设计)人: | 田村仁;山形智生;栗原健人;外川阳一 | 申请(专利权)人: | 株式会社东京精密 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00;B25J9/00;G01B5/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汪洋 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供了具有提高的测量准确性和测量效率的三维测量系统和三维测量方法。该三维测量系统设置有平台18、机械臂50和探针22,所述机械臂被配置为保持待测量的工件W、并且改变所述工件W的姿态,所述探针被配置为能够相对于所述平台18移动、并且对所述工件W执行三维测量。 | ||
搜索关键词: | 三维 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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