[发明专利]对用于金属杂质识别的天线系统进行功能检验的设备和方法

摘要

本发明涉及一种用于对天线系统进行功能检验的设备，所述天线系统尤其是用于金属杂质识别，所述设备包括：具有多个天线单元（AE0，...，AE15）的天线系统，其中包括天线（A0，...，A15）和至少一个电阻（R0，...，R15）的天线单元（AE0，...，AE15）中的每一个分别接线在选择单元（SE）的所分配的输入端与其他选择单元（SE2）的多个输出端中的特定输出端之间；计算单元（CU），所述计算单元被构造用于在第一输出端（CUO1）处为所述选择单元（SE）和所述其他选择单元（SE2）提供控制信号（CTRL_MUX_I，CTRL_MUX_II），其中通过所述控制信号确定出：能够将所述选择单元（SE）的哪个输入端与所述选择单元（SE）的输出端（SEO）连接以及所述其他选择单元（SE2）的输出端（SE2O0，...，SE2O3）中的哪一个输出端被加载有在所述其他选择单元（SE2）的输入端（SE2I）处施加的偏压（Vofst），和在所述计算单元（CU）的输入端（CUI1）处接收在所述选择单元（SE）的输出端（SEO）处施加的天线信号；诊断电路（DC），所述诊断电路接线在所述选择单元（SE）的输出端（SEO）与诊断电压端子之间并且能够由所述计算单元（CU）操控，其中诊断电压（Vaux）施加在所述诊断电压端子上。所述计算单元（CU）被构造用于从在被激活的和未被激活的诊断电路情况下确定的在所述选择单元（SE）的输出端（SEO）处的天线信号的比较中推断出所述天线系统的差错。