[发明专利]用于测量绝对位置的位置测量设备在审
| 申请号： | 202080012366.4 | 申请日： | 2020-02-11 |
| 公开（公告）号： | CN113366282A | 公开（公告）日： | 2021-09-07 |
| 发明（设计）人： | 彼德·费舍尔;曼弗雷德·赫茨;克里斯蒂安·克勒;克里斯蒂安·瓦赫特;哈特穆特·舍纳 | 申请（专利权）人： | IC-HAUS股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D5/249 | 分类号： | G01D5/249;G01D5/347 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 德国博*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及位置测量设备(3)和测量绝对位置的相应方法，包括：材料测量(4)，其具有二进制代码(1、2)；以及传感器设备(6)，其扫描二进制代码(1，2)。传感器设备(6)被设计成扫描具有第一数量(M)的代码字(C)的第一二进制代码(1)，代码字(C)具有相同的代码字长度(L)。材料测量(4)的二进制代码(2)是二进制代码(2)，该二进制代码(2)是形成第一二进制代码(1)的一部分、具有第二数量(m)的代码字(C)、并且可以被映射到第一二进制代码(1)上的二进制代码(2)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 绝对 位置 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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