[发明专利]测定纳米级系统(NSS)的理化性质的方法在审
| 申请号： | 202080012510.4 | 申请日： | 2020-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN113424042A | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | C·恩勒特;M·莱曼;I·尼尚;U·舒伯特 | 申请（专利权）人： | 斯玛特迪利弗利有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N15/04 | 分类号： | G01N15/04;G01N33/543;G01N15/00 |
| 代理公司： | 广州川墨知识产权代理事务所(普通合伙) 44485 | 代理人： | 龙亮华;王丙强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及使用分析型超速离心(AUC)测定纳米级系统(NSS)的理化性质的方法，包括以下步骤：生成与感兴趣的NSS相关的多维沉降分析图；选择样品相关参数；测定样品中沉降系数值/参数；将样本沉降系数值插入多维沉降分析图以获得NSS样品的映射值；以及从NSS样品的映射值推断NSS样品的理化性质。此外，本发明涉及用于执行该方法的系统、计算机程序产品和计算机可读存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 纳米 系统 nss 理化 性质 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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