[发明专利]粒子测量设备、粒子分离测量设备以及粒子分离测量装置在审
| 申请号： | 202080020025.1 | 申请日： | 2020-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN113557423A | 公开（公告）日： | 2021-10-26 |
| 发明（设计）人： | 米田将史;增田雄治 | 申请（专利权）人： | 京瓷株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14;G01N21/03;G01N35/08;G01N37/00;B01J19/00;B03B5/00;B03B5/62 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王晖 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开的粒子测量设备(3)在上表面具有包含测量对象的粒子的第1流体流入的第1流入口(23)，具有与第1流入口(23)连接的用于测量粒子的第1流路(16)、以及在第1流路(16)与第1流入口(23)的连接部的上游侧连接的、宽度小于第1流入口(23)的第3流路(29)，第1流路(16)具有宽度大于第3流路(29)的宽度以及第1流入口(23)的宽度的第1平面部(27)、与第1平面部(27)的下游侧连接的宽度增大部(16a)、以及与宽度增大部(16a)的下游侧连接的第2平面部(28)。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 测量 设备 分离 以及 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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