[发明专利]用于检测物体的光学测量系统的光信号偏转装置、测量系统以及用于操作光信号偏转装置的方法在审

专利信息
申请号: 202080020055.2 申请日: 2020-03-10
公开(公告)号: CN113557445A 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: H-H-D.阮;T.舒勒;J.尼斯;J.西蒙;F.米勒 申请(专利权)人: 法雷奥开关和传感器有限责任公司
主分类号: G01S7/481 分类号: G01S7/481;G01S17/931
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王蕊瑞
地址: 德国比蒂希*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于光学测量系统的光信号偏转装置(26),该光学测量系统用于检测监控区域中的物体,本发明还涉及一种光学测量系统以及一种用于操作光信号偏转装置(26)的方法。光信号偏转装置(26)包括至少一个偏转元件(32),其具有用于偏转光信号(22)的至少一个偏转区域(34)。光信号偏转装置(26)还包括至少一个驱动装置(36),通过该驱动装置可以驱动至少一个偏转元件(32),使得至少一个偏转区域(34)可以相对于入射到至少一个偏转区域(34)上的每个光信号(22)的传播轴(23)移动。至少一个偏转区域(34)至少部分地弯曲。偏转元件(32)优选地是偏转镜(32),其具有镜面(34)作为用于偏转光信号的偏转区域。镜面(34)位于面对发射装置(24)的一侧。镜面(34)例如是椭圆弯曲的,并且镜面(34)例如远离发射装置(24)凹入,即在发射器光信号(22)的方向上。驱动装置(36)例如是线性压电马达,其连接到偏转镜(32),使得马达可以沿着假想线(38)、例如直线移动偏转镜(32)并因此移动镜面(34)。偏转镜(32)具有零位置I和偏转位II。通过以相应的方式相对于光信号的传播轴移动偏转元件来修改光信号入射到至少一个偏转区域上的入射点。由于至少一个偏转区域的曲率,借助于偏转元件的运动,相同的传播轴以不同的入射角入射到不同的入射点上。以这种方式,光信号根据入射点以不同的方式偏转。
搜索关键词: 用于 检测 物体 光学 测量 系统 信号 偏转 装置 以及 操作 方法
【主权项】:
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