[发明专利]测量方法以及检查装置在审

专利信息
申请号: 202080025449.7 申请日: 2020-02-15
公开(公告)号: CN113728240A 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 鸙野俊寿 申请(专利权)人: 日本电产理德股份有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01R35/00;G06F3/041
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 王茜;臧建明
地址: 日本京都府京都市右京区西京极*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明既可简化检查装置中所含的多个电流检测部的校准工时,又可获得准确的阻抗值。对彼此隔离的多个第一电极(51)与多个第二电极(52)之间的电极间阻抗进行测量的测量方法包含下述步骤:对多个电流检测部(4)中的一个电流检测部进行校准;使用经校准的电流检测部即第一电流检测部(4a)来测量基准样本(S)的第一基准阻抗(ZX1);使用多个所述电流检测部(4)来并行地测量检查对象物(50)的多个部位的对象物阻抗(ZXM);以及基于第一基准阻抗(ZX1)来修正对象物阻抗(ZXM)以算出修正后阻抗(ZDUT)。
搜索关键词: 测量方法 以及 检查 装置
【主权项】:
暂无信息
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