[发明专利]用于X射线校准的X射线波纹标记物在审

专利信息
申请号: 202080028737.8 申请日: 2020-02-14
公开(公告)号: CN113692603A 公开(公告)日: 2021-11-23
发明(设计)人: A·帕特里丘 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: G06T7/73 分类号: G06T7/73
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘兆君
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开的各种实施例包括C型臂配准系统,所述C型臂配准系统采用控制器(70),所述控制器用于将C型臂(60)配准到X射线波纹标记物(20),所述X射线波纹标记物包括从所述X射线波纹标记物(20)的固定点(40)径向延伸的波纹图案(50)。在操作中,所述控制器(70)识别X射线图像内的波纹图案(50),所述X射线图像从所述C型臂(60)的X射线投影生成并且图示所述波纹图案(50)的部分或全部,对所述X射线图像内的所述波纹图案(50)的所述识别的特征在于所述C型臂(60)相对于所述X射线波纹标记物(20)的所述X射线投影的姿态。所述控制器(70)还:分析所述X射线图像内的所述波纹图案(50)以导出一个或多个变换参数,所述一个或多个变换参数定义所述C型臂(60)相对于所述X射线波纹标记物(20)的X射线投影的姿态;并且基于所述(一个或多个)变换参数来将所述C型臂(60)配准到所述X射线波纹标记物(20)。
搜索关键词: 用于 射线 校准 波纹 标记
【主权项】:
暂无信息
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