[发明专利]散射显微镜检查在审
| 申请号： | 202080030523.4 | 申请日： | 2020-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN113728222A | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 菲利普·库库拉;萨利·法耶兹 | 申请（专利权）人： | 牛津大学科技创新有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/00 | 分类号： | G01N21/00;G02B21/06 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 陈鑫;姚开丽 |
| 地址： | 英国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种散射显微镜检查装置，该散射显微镜检查装置使用显微镜对包括表面的物体进行成像。光源发射照射光，以及光检测器检测从物体弹性散射的光。电位被施加到该表面，在进行成像时，电位影响物体的电化学特性。电位提供了一种对比度机制，该对比度机制改善了成像并且使得能够表征物体和/或周围环境。 | ||
| 搜索关键词： | 散射 显微镜 检查 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于牛津大学科技创新有限公司，未经牛津大学科技创新有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202080030523.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
