[发明专利]物体定位器、用于校正物体形状的方法、光刻设备、物体检查设备、装置制造方法在审
申请号: | 202080032445.1 | 申请日: | 2020-03-27 |
公开(公告)号: | CN113785242A | 公开(公告)日: | 2021-12-10 |
发明(设计)人: | M·J·H·弗伦克肯;T·M·纳格特加尔;O·V·沃兹恩伊 | 申请(专利权)人: | ASML荷兰有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;H01L21/67 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 赵林琳;吕世磊 |
地址: | 荷兰维*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种物体定位器,包括:具有物体支撑表面的物体支撑件,该物体支撑表面被配置为接合物体的至少一部分,所述物体支撑表面具有支撑表面温度;热装置,该热装置被配置为向物体的至少一部分提供第一物体温度,该第一物体温度与支撑表面温度相差第一预定温差。 | ||
搜索关键词: | 物体 定位器 用于 校正 形状 方法 光刻 设备 检查 装置 制造 | ||
【主权项】:
暂无信息
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