[发明专利]用于配置光谱测定装置的方法

摘要

本发明涉及一种用于借助于参考光谱测定装置来配置目标光谱测定装置的方法(1)，每个光谱仪包括光源和检测器，所述检测器适于检测由所述源发出并由对象反射或透射的光辐射，由此生成光谱测量结果，所述光谱测量结果包括针对每个对象的一系列n个光谱和针对每个系列的光谱所测量的平均光谱，所述方法包括以下步骤：‑利用参考光谱仪获取(10)参考样品集合的参考光谱测量结果，并将所述光谱测量结果存储在参考数据库中；‑利用目标光谱仪获取(12)参考样品的子集的目标光谱测量结果，并将所述光谱测量结果存储在目标数据库中；‑从参考光谱测量结果和目标光谱测量结果确定(14)每个参考样品的平均光谱sS；‑为每个平均光谱sS确定(16)一系列n个光谱si(i＝1…n)，这包括确定目标光谱仪的光学传递函数并将光学传递函数应用于由参考光谱仪测量的每个平均光谱的步骤；以及‑将每个参考样品的平均光谱和所述一系列n个光谱存储(18)在目标数据库中，其中，所述确定步骤(14、16)借助于计算模块来执行。本发明还涉及使用根据本发明的方法(1)配置的光谱测定装置(100)。