[发明专利]偏光板的液晶污点检查装置和偏光板的液晶污点检查方法在审
申请号: | 202080036418.1 | 申请日: | 2020-03-09 |
公开(公告)号: | CN113841083A | 公开(公告)日: | 2021-12-24 |
发明(设计)人: | 柳在一;南泽根;刘济赫 | 申请(专利权)人: | 株式会社LG化学 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G02F1/1335 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 赵丹;梁笑 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本申请涉及偏光板的液晶污点检查装置和偏光板的液晶污点检查方法,并且特征在于,从表面光源施加的光透射通过第一偏振构件并在偏光板处被反射,反射的光被施加至第二偏振构件,并基于透射通过第二偏振构件的光来确定偏光板中的液晶污点,其中所述偏光板按顺序包括偏振器和四分之一波片,所述四分之一波片包括液晶膜,以及透射通过第一偏振构件的光被施加至偏光板的四分之一波片。 | ||
搜索关键词: | 偏光 液晶 污点 检查 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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