[发明专利]一种在工业生产线中操作质量控制的装置、对应的方法和计算机程序产品在审
| 申请号： | 202080039227.0 | 申请日： | 2020-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN114207420A | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | G·皮塔;V·拉罗萨 | 申请（专利权）人： | 都灵设备科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N21/359;G01N35/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李雪娜;吕传奇 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于在工业生产线（10）上实行质量控制的装置（20），包括用于测量前述工业生产线（10）的产品样品（C）的性质的一个或多个装置（30，40，50），所述一个或多个装置（30，40，50）供应相应的一个或多个测量信号，所述装置（20）包括被配置用于处理一个或多个测量信号并且获得产品样品（C）的性质的处理模块，质量控制根据产品样品（C）的所述性质来实行，用于测量产品样品（C）的性质的所述一个或多个装置（30，40，50）包括：x射线荧光装置（30），其包括x射线源（331），所述x射线源（331）在测量环境中朝向产品样品（C）发射第一x射线束（XB，XBC），以及粒子检测器（335），其被配置用于接收由产品样品（C）散射的第二x射线束（XBR），并且生成在所述相应的一个或多个测量信号的集合内供应的第一接收信号。装置（20）进一步包括优选地在近红外（40）中操作的光学光谱学装置，其包括在近红外（NIR）中操作的辐射源，该辐射源朝向产品样品（C）发射第一光学辐射束，以及用于接收由产品样品（C）散射的第二光学辐射束并生成在所述相应的一个或多个测量信号的集合内供应的第二接收信号的光学传感器。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 工业 生产线 操作 质量 控制 装置 对应 方法 计算机 程序 产品 | ||
【主权项】：
暂无信息
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