[发明专利]测定器在审
| 申请号： | 202080041451.3 | 申请日： | 2020-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN113994175A | 公开（公告）日： | 2022-01-28 |
| 发明（设计）人： | 高木纯;田中坚志;高桥智纪 | 申请（专利权）人： | 株式会社村田制作所 |
| 主分类号： | G01D11/24 | 分类号： | G01D11/24 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 邰琳琳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开提供能够减少传感器部的损伤的测定器。传感器部(41)具有基板(42)、设置于第一主面(42a)的一对梳齿电极(43)、(44)、以及设置于第二主面并且与一对梳齿电极分别对应的一对背面电极。一对梳齿电极分别具有多个齿部(52)～(56)、(62)～(67)、以及连接齿部彼此的连接部(51)、(61)。基板在与在一对梳齿电极内的区域(Ar1)内的齿部对应的位置具有导通孔导体(C1)、(C2)，其中，区域(Ar1)由在齿部(52)～(56)、(62)～(67)的排列方向上位于两端的外侧齿部(52)、(62)、(63)和连接部(51)、(61)包围，导通孔导体(C1)、(C2)连接梳齿电极与背面电极。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 | ||
【主权项】：
暂无信息
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