[发明专利]各向异性的外延生长在审

专利信息
申请号: 202080045902.0 申请日: 2020-05-07
公开(公告)号: CN114072544A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 秦嘉政;阿布舍克·杜贝;黄奕樵;索拉布·乔普拉 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: C30B25/20 分类号: C30B25/20;C30B29/06;C30B29/08;H01L21/02
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国;赵静
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 通常,本文中描述的实例涉及用于在硅锗(SiGe)表面上各向异性地外延地生长材料的方法和半导体处理系统。在一个实例中,在基板上形成硅锗表面。外延硅锗外延地生长在硅锗表面上。外延硅锗的第一生长率沿着垂直于硅锗表面的第一方向,并且外延硅锗的第二生长率沿着垂直于第一方向的第二方向。第一生长率大于第二生长率至少5倍。
搜索关键词: 各向异性 外延 生长
【主权项】:
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