[发明专利]ODMR温度测量方法在审
| 申请号： | 202080048799.5 | 申请日： | 2020-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN114096821A | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 藤原正澄 | 申请（专利权）人： | 国立大学法人冈山大学 |
| 主分类号： | G01K11/20 | 分类号： | G01K11/20;G01K13/00;G01K13/20 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 龙淳;刘芃茜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明以提供基于光学检测磁共振能够以更高的精度测量温度的技术为技术问题，通过如下方法解决该技术问题，该方法是基于无机荧光颗粒的光学检测磁共振来测量对象物的温度的方法，包括：(a)对包含无机荧光颗粒的对象物照射频率彼此不同的多种微波的步骤；(b)分别用不同的光子计数器测量照射各种微波时的无机荧光颗粒的荧光强度的步骤；(c)基于光子计数器间的脉冲测量数的误差来修正荧光强度的步骤；和(d)基于得到的修正值来计算对象物的温度的步骤。 | ||
| 搜索关键词： | odmr 温度 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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