[发明专利]测量和验证层2持续下行链路最大数据速率解码性能在审
| 申请号： | 202080051140.5 | 申请日： | 2020-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN114128195A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | V·巴拉苏布拉曼尼亚安;S·卡纳马拉普迪;P·萨盖尼·高达;Y·图格纳瓦特 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L1/24 | 分类号： | H04L1/24;H04L1/18;H04L43/50;H04W24/10;H04L43/0829;H04L1/16 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于验证用户装备(UE)设备层2持续下行链路最大数据速率解码性能的测试实体可以向UE设备发送请求仅下行链路测试模式的激活的非接入层消息，向UE设备发送第一分组数据汇聚协议(PDCP)状态请求，在测量间隔期间向UE设备发送下行链路PDCP分组，从UE设备接收物理层(PHY)混合确认请求(HARQ)确认(ACK)或非确认(NACK)并基于接收的PHY HARQ ACK/NACK确定预期丢失的层1分组，在测量间隔之后向UE设备发送第二PDCP状态请求，从UE设备接收PDCP状态报告，以及从接收的PDCP状态报告中包括的第一丢失计数(FMC)值或位图确定丢失的层2分组。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 验证 持续 下行 最大 数据 速率 解码 性能 | ||
【主权项】：
暂无信息
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