[发明专利]结晶膜、包含结晶膜的半导体装置以及结晶膜的制造方法在审
申请号: | 202080059351.3 | 申请日: | 2020-08-19 |
公开(公告)号: | CN114270531A | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | 河原克明;大岛祐一;冲川满 | 申请(专利权)人: | 株式会社FLOSFIA;国立研究开发法人物质·材料研究机构 |
主分类号: | H01L29/24 | 分类号: | H01L29/24;C30B23/04;C30B25/04 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 刁兴利;康泉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
一种结晶膜,其包含结晶性金属氧化物为主成分,且具有刚玉结构,通过第一横向晶体生长在基板上形成第一横向晶体生长层,并在所述第一横向晶体生长层上配置掩模,进而通过第二横向晶体生长形成第二横向晶体生长层,从而得到位错密度为1×10 |
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搜索关键词: | 结晶 包含 半导体 装置 以及 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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