[发明专利]测试座在审
| 申请号： | 202080061282.X | 申请日： | 2020-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN114341652A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 郑永倍;金钟元;俞恩智;金炯俊 | 申请（专利权）人： | 株式会社ISC |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 吕琳;田英爱 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测试座，包括多个导电部，其设置在对应于待测试元件的端子的位置处，多个导电颗粒在竖直方向上排列及对准于弹性绝缘材料中，以在竖直方向上呈现导电性；以及绝缘部分，其围绕上述导电部配置以支撑每个导电部并使导电部彼此绝缘，其中，每个导电颗粒包括：筒状主体，其在一个方向上长且具有开放的上端及下端以及内部穿透空间；以及突出部，其从上述筒状主体的端部向一个方向突出，其中，导电颗粒的突出部具有能够插入至另一导电颗粒的筒状主体的穿透空间内的大小，使得在检测过程中压缩导电部时，导电颗粒中的突出部卡在另一导电颗粒上且不与另一导电颗粒分离。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 | ||
【主权项】：
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