[发明专利]防反射结构体及其制造方法在审
申请号: | 202080077166.7 | 申请日: | 2020-12-16 |
公开(公告)号: | CN114641709A | 公开(公告)日: | 2022-06-17 |
发明(设计)人: | 栗原一真;穂苅辽平;福井博章 | 申请(专利权)人: | 国立研究开发法人产业技术综合研究所;东亚电气工业株式会社 |
主分类号: | G02B1/118 | 分类号: | G02B1/118;B32B3/30;B32B7/023;B32B9/00;C03C17/245;C23C14/08;C23C14/10;C23C14/34 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 褚瑶杨;庞东成 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的防反射结构体在透明的基材(B)的表面部(S)和从各孔(Hn)的底部起的上部方向的空间部(Cn)配置有金属氧化物膜,该透明的基材(B)形成有多个与平坦的表面垂直的方向的截面形状为U字状或V字状的孔(Hn),关于该各孔(Hn)的形状,开口部的平均直径(m)为50~300nm,与相邻的该开口部之间的各中心点的平均间隔(k)为100~400nm,并且,以表面部(S)为基准的各孔(Hn)的深度(dn)为80~250nm的范围,在该防反射结构体中,配置于各空间部(Cn)的金属氧化物膜的厚度(tn)随着各孔(Hn)的深度(dn)变深而增加,由此,从配置于上述表面部(S)的金属氧化物膜的最表面部(Sm)至配置于各空间部(Cn)内的金属氧化物膜的表面部的各孔(Hn)间的深度(fn)之差减少。 | ||
搜索关键词: | 反射 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国立研究开发法人产业技术综合研究所;东亚电气工业株式会社,未经国立研究开发法人产业技术综合研究所;东亚电气工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202080077166.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:产品管理中射频识别技术的融合
- 下一篇:用于调整音频系统中的音量的设备