[发明专利]断裂面检查装置和断裂面检查方法在审
| 申请号： | 202080078164.X | 申请日： | 2020-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN114667433A | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 村上僚祐 | 申请（专利权）人： | 株式会社安永 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 吕琳;朴秀玉 |
| 地址： | 日本三重*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种检查由断裂分割而产生的第一断裂面(FS1)和第二断裂面(FS2)的断裂面检查装置(10)，所述断裂面检查装置(10)具备：数据获取部(20)，获取各个断裂面的各自的二维数据和三维数据；轮廓提取部(51)，根据二维数据提取第一断裂面(FS1)的第一轮廓和第二断裂面(FS2)的第二轮廓；变换量计算部(52)，计算对第二轮廓进行仿射变换来变换成第一轮廓时的变换量X(affine)；变形修正部(53)，用变换量X(affine)对第二断裂面(FS2)的三维数据进行仿射变换来计算变形修正数据；以及比较部(56)，对第一断裂面(FS1)的三维数据和变形修正数据进行比较。 | ||
| 搜索关键词： | 断裂 检查 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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