[发明专利]功能膜检查方法、检查系统以及料卷在审
| 申请号： | 202080085754.5 | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN114846321A | 公开（公告）日： | 2022-08-02 |
| 发明（设计）人： | 三笠康之;松林恭平;田壶宏和;村上洋介;神丸刚 | 申请（专利权）人： | 日东电工株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/892 | 分类号： | G01N21/892;G02B5/30 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 谢辰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种能够适当地管理功能膜的缺陷信息的功能膜的检查方法等。本发明包括：第一工序，其检查用于贴合在长条的偏振片或包含偏振片的长条的光学层叠体而制造长条的偏光膜(F2)的长条的功能膜(F1)，取得功能膜的缺陷信息；第二工序，其在功能膜的宽度方向的端部，每隔功能膜的长度方向的规定间隔打印识别信息；第三工序，其将功能膜的缺陷信息与识别信息关联地存储。 | ||
| 搜索关键词： | 功能 检查 方法 系统 以及 | ||
【主权项】：
暂无信息
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