[发明专利]用于校准至少一个质谱装置的方法

摘要

本发明公开了一种用于校准具有第一定义的硬件配置的至少一个质谱装置(110)的方法。所述方法包括以下步骤：a)至少一个制造商现场(116)预校准步骤，其包括：a1：为具有第二定义的硬件配置的通用型质谱装置(114)建立至少一个参考校准函数fp，其中所述第二定义的硬件配置等效于所述第一定义的硬件配置，其中所述参考校准函数fp描述至少一个校准品样品中的至少一种分析物的至少一个浓度c的关系，其中所述参考校准函数fp是参数化函数fp(浓度)其中p＝(p1，p2，...pn)为所述参考校准函数的参数组，并且n为正整数；a2：确定用于所述通用型质谱装置(114)的所述参考校准函数的所述参数组的校准值(I)；b)向所述质谱装置(110)的客户(118)提供至少以下各项：所述通用型质谱装置(114)的参考校准函数fp、所述通用型质谱装置(114)的校准值(I)以及具有所述至少一种分析物的定义的目标值的至少一个校准品样品；以及c)用于所述质谱装置(110)的至少一个客户现场(120)重新校准步骤，其包括：c1：使用所述质谱装置(110)以及校准品样品中的至少一个执行至少一次校准测量，从而产生至少一个校准信号；c2：基于所述校准信号生成校准信息。