[发明专利]用于存储器装置的链路评估在审
| 申请号： | 202080093747.X | 申请日： | 2020-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN115039178A | 公开（公告）日： | 2022-09-09 |
| 发明（设计）人： | M·巴尔比;T·海因;H·赫尼希施密德 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34;G11C29/52;G06F11/10 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 丁昕伟 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明描述用于存储器装置的链路评估的方法、系统及装置。存储器装置可经由通道接收信令且可基于针对参考电压对所述信令进行取样来识别编码到所述信令中的逻辑值。所述取样可在取样周期内的参考时间发生。为了评估所述通道的质量(例如误差界限)，所述存储器装置可调整所述参考电压、所述参考时间或两者，且所述存储器装置或主机装置可确定所述存储器装置是否仍能够正确识别经由所述通道编码到信令中的逻辑值。在一些情况中，所述通道质量可在刷新循环期间或在所述存储器装置的另一机会时间进行评估。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 存储器 装置 评估 | ||
【主权项】：
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