[发明专利]高频测试接触元件和测试探针设备在审
| 申请号： | 202080095160.2 | 申请日： | 2020-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN115485568A | 公开（公告）日： | 2022-12-16 |
| 发明（设计）人： | 奥特马尔·菲舍尔;威廉·施罗夫;彼得·布鲁尔;大卫·斯图尔德雷尔-考法姆;蒂姆·希尔特 | 申请（专利权）人： | 英冈测试设备有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人： | 刘晔;王刚 |
| 地址： | 德国康*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明涉及一种用于在接触配对物，特别是板对板插头连接器，和测试探针设备之间可释放地建立接触的高频测试接触元件(10)，所述测试接触元件包括薄片主体(10a)，该薄片主体在一个终端具有用于接触接触配对物(30)的第一接触区域(1)；用于接触接收测试接触元件的接触探针设备(20)的相对的第二接触区域(2)；以及曲折弹性区域(3)，该曲折弹性区域位于两者之间并且具有沿着该弹性区域的运行方向(V)延伸的优选地居中布置的空腔(5)，该空腔是为沿着测试接触元件(10)的纵向延伸方向(L)的弹性而设置的，其中曲折弹性区域(3)具有多个具有5°至70°的相应弯曲角度(α |
||
| 搜索关键词： | 高频 测试 接触 元件 探针 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英冈测试设备有限责任公司，未经英冈测试设备有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202080095160.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
