[发明专利]半导体存储装置在审

专利信息
申请号: 202110006529.4 申请日: 2021-01-05
公开(公告)号: CN113506808A 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 奥山清 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: H01L27/11573 分类号: H01L27/11573
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 张世俊
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 实施方式提供一种在动作时序、施加电压不同的晶体管阵列区域彼此之间缓和电位差的半导体存储装置。实施方式的半导体存储装置具有衬底、第1杂质区域、第2杂质区域、第1晶体管、第3杂质区域、第4杂质区域、第2晶体管、以及活性区域。第1导电型的第1杂质区域、第2杂质区域、第3杂质区域、第4杂质区域、活性区域设置在衬底上。第1杂质区域与第2杂质区域在第1方向上隔开。第1晶体管在第1杂质区域与第2杂质区域之间包含第1电极。第3杂质区域与第1杂质区域在第2方向上隔开。第4杂质区域与第3杂质区域在第1方向上隔开。第2晶体管在第3杂质区域与第4杂质区域之间包含第2电极。活性区域设置在第1晶体管与第2晶体管之间。
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【主权项】:
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