[发明专利]基于ATE的SOC芯片低电压差分信号测试方法及装置在审
| 申请号： | 202110009431.4 | 申请日： | 2021-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN112782562A | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 颜军;赵厉;唐芳福;韩俊 | 申请（专利权）人： | 珠海欧比特宇航科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 张志辉 |
| 地址： | 519080 广东省珠*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种基于ATE的SOC芯片低电压差分信号测试方法及装置，其测试方法包括：构建用于测试SOC低电压差分信号的计算机代码，计算机代码包含SOC低电压差分信号的参数，参数包括SOC芯片的引脚映射、信道映射、输入时钟周期及设定的管脚值；基于计算机代码通过仿真环境生成ATE可以识别的测试向量；ATE通过测试向量执行对SOC芯片低电压差分信号的测试。本发明至少具有以下有益效果：能够及时发现SOC芯片中低电压差分信号的异常现象，能够全面验证SOC芯片低电压差分信号的各项性能指标，降低SOC芯片中低电压差分信号的测试复杂度，提高测试效率，降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 ate soc 芯片 电压 信号 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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