[发明专利]质子束流的测量装置及系统在审
| 申请号： | 202110010206.2 | 申请日： | 2021-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN112666594A | 公开（公告）日： | 2021-04-16 |
| 发明（设计）人： | 孔福全;隋丽;刘建成;龚毅豪;马立秋;王巧娟;刘淇 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张成新 |
| 地址： | 102413 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种质子束流的测量装置及系统，其中该装置包括壳体结构和测量结构，壳体结构具有真空容置空间；测量结构套设于壳体结构的真空容置空间中，用于质子束流的测量；其中，测量结构包括阵列件，阵列件具有均匀分布设置的多个法拉第筒，用于实现质子束流的注量率和均匀性的测量。因此，本公开通过将包括多个法拉第筒的阵列件集成到真空容置壳体结构中，使得测量装置能够适应大气环境下的测量；此外，借助于多个法拉第筒的阵列集成，还可以同时实现对高注量率的质子束流的注量率和均匀性的快速测量，具有更高的测量准确性，提高了测量效率，实现了在操作简便、注量率和均匀性测量等方面的有效兼顾。 | ||
| 搜索关键词： | 质子 测量 装置 系统 | ||
【主权项】：
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