[发明专利]一种适用于瓷盘的盘缘轮廓测量系统在审
| 申请号： | 202110018522.4 | 申请日： | 2021-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN112729161A | 公开（公告）日： | 2021-04-30 |
| 发明（设计）人： | 邹同兵;魏成龙 | 申请（专利权）人： | 苏州威达智电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 苏州国诚专利代理有限公司 32293 | 代理人： | 卢华强 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市中国（江苏）自由贸易试验区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及适用于瓷盘的盘缘轮廓测量系统，其包括支撑架、激光镭射测距仪以及旋转驱动单元。支撑架横跨皮带输送机，且包括有前置支撑板、后置支撑板以及横置承力板。前置支撑板、后置支撑板对称地布置于皮带输送机的前、后侧，以共同用来托顶横置承力板。旋转驱动单元由横置承力板进行支撑。激光镭射测距仪布置于横置承力板的正下方，且在旋转驱动单元的驱动力作用下进行圆形旋转运动。整个检测过程省时省力，且不受检测工人操作经验以及工作状态的影响，进而杜绝了“漏检”、“误检”现象的发生。另外，在测量进程中，激光镭射测距仪始终围绕一基准轴进行旋转运动，且保持于同一位置高度，从而确保了瓷盘盘缘轮廓度测量的精准性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 瓷盘 轮廓 测量 系统 | ||
【主权项】：
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