[发明专利]光学器件监测与标定系统和方法有效
| 申请号： | 202110023040.8 | 申请日： | 2021-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN112763194B | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 梁宇鑫;崔乃迪;欧阳伯灵;冯俊波;郭进 | 申请（专利权）人： | 联合微电子中心有限责任公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G02B6/124;G02B6/26;G02B6/122 |
| 代理公司： | 北京北汇律师事务所 11711 | 代理人： | 马亚坤 |
| 地址： | 401332 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学器件监测与标定系统和方法，其中，该光学器件监测与标定系统和方法包括：待测光学器件和监视装置；该待测光学器件连接有输入波导与输出波导；该监视装置包含第一监测波导和第二监测波导；该第一监测波导上设有输入光栅，用于输入光信号；该第二监测波导上设有输出光栅，用于输出光信号；该第一监测波导与输入波导之间设有第一聚合物，使得第一监测波导与输入波导耦合导通；该第二监测波导与输出波导之间设有第二聚合物，使得第二监测波导与输出波导耦合导通；根据该输入光栅输入的光信号与输出光栅输出的光信号对该待测光学器件进行监测和/或标定。解决了现有技术在大规模光网络中缺乏对于个别光学器件监测与标定的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 器件 监测 标定 系统 方法 | ||
【主权项】：
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