[发明专利]一种用于FPGA内嵌IP的可测试性设计方法有效
| 申请号： | 202110023275.7 | 申请日： | 2021-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN112597723B | 公开（公告）日： | 2022-09-30 |
| 发明（设计）人： | 季顺南;张勇;王俊;温长清 | 申请（专利权）人： | 深圳市紫光同创电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33 |
| 代理公司： | 深圳国新南方知识产权代理有限公司 44374 | 代理人： | 胡志桐 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于FPGA内嵌IP的可测试性设计方法，所述可测试性设计方法包括：接收设计文件和综合库，进行逻辑综合生成综合后的网表；接收所述综合后的网表，插入第一寄存器链并生成插链后的网表；接收并修改所述插链后的网表，插入第二寄存器链并生成修改后的网表；接收所述修改后的网表，生成测试向量并完成仿真。本发明的可测试性设计方法，其通过插入第二寄存器链，以改变内嵌IP的输入激励，从而使内嵌IP内的缺陷可通过DFT用例检测；且在避免对内嵌IP的电路结构做重大修改的前提下，可以明显提升内嵌IP的DFT测试覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 fpga ip 测试 设计 方法 | ||
【主权项】：
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